超细白色二氧化硅形成的花状中间形态

技术能力

从材料研究,
到稳定生产。

依托核心团队20余年的工艺经验和浙江大学联合实验室,开展石英提纯及纳米二氧化硅研发,通过试验、检测和生产反馈推进量产。

了解特色工艺 ↓
20+ 年核心团队工艺经验2,000+ 处已研究石英资源59 项专利,覆盖精硅及联合集团

实测验证

用检测数据,指导工艺选择。

对原矿、工艺中间样品和成品开展元素分析、粒度检测及应用试验,用数据指导原料选择、提纯与研磨分级。

精硅分析实验室的ICP-OES仪器
ICP-OES · 实验室分析能力
01 / 实验室能力

提前识别痕量杂质,降低工艺风险。

Agilent 5900 ICP-OES用于检测石英材料中的元素含量,现有流程覆盖Fe、Ti、Al、Li等13种痕量元素,可开展ppm级杂质评估。各元素的报告限需结合样品基体和检测方法确认。

13种痕量元素ppm级石英杂质评估
  1. 01接样登记记录样品标识、批次及检测目标。
  2. 02代表性取样缩分并制备代表性试样。
  3. 03样品制备按选定方法进行干燥、研磨或消解。
  4. 04痕量元素分析采用ICP-OES测定约定杂质元素。
  5. 05审核与报告核验数据,出具与批次对应的结果。
Mastersizer完整粒度报告,显示D10 0.929 μm、D50 4.126 μm、D90 9.349 μm
检测报告 · 可横向滑动查看
Mastersizer完整粒度报告,显示D10 0.929 μm、D50 4.126 μm、D90 9.349 μm
Mastersizer · 代表性粒度分布记录
02 / 粒度分布

看完整粒度分布,不只看单一粒径。

本报告采用激光衍射体积分布:D10、D50、D90分别为累计颗粒体积占比达到10%、50%、90%时对应的粒径。完整分布有助于评估堆积、分散、熔制及工艺稳定性。

0.929 μm代表性D104.126 μm代表性D509.349 μm代表性D90

根据粒度曲线调整粉碎和分级条件,并检查连续批次是否符合约定范围。

完整透过率对比图,含190至1090 nm波长坐标、透过率纵轴及三组曲线图例
三组石英样品熔制观察原图
透过率对比与熔制观察
透过率对比与熔制观察

可横向滑动查看图像细节

完整透过率对比图,含190至1090 nm波长坐标、透过率纵轴及三组曲线图例
03 / 性能验证

验证材料加工后的实际表现。

化学纯度和粒度只是部分性能指标。透过率对比及受控熔制观察,有助于评估材料在实际加工中的表现。

  • 光学表现比较测量波长范围内的透射性能。
  • 熔制观察观察样品在受控加热后的状态与外观。
  • 材料对比分析材料工艺变化与下游性能差异的关系。
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从技术突破到规模生产

石英提纯与纳米粉体制备。

高纯石英研发控制天然原料中的杂质;纳米二氧化硅采用等离子高温爆燃法,以高纯石英砂为原料量产20 nm球形粉体。

精硅具备6N结晶型石英砂和99.9997%纯度、20 nm球形纳米二氧化硅量产能力。
01 / 天然石英提纯6N

超高纯石英砂规模化生产

根据矿石特征开展矿源评价、除杂、污染控制及批次检测,将合适的原料加工为超高纯材料。

可在高纯石英砂页面查看代表性成品检测记录和具体数据。
02 / 等离子体颗粒工程纳米

纳米二氧化硅规模化生产

以高纯石英砂为原料,采用等离子高温爆燃法物理工艺,量产20 nm球形二氧化硅,纯度99.9997%。

物理工艺 · 自有矿源 · 规模化成本优势
研磨分级与污染控制

针对适用粉体,采用间歇式或连续式球磨,并配合气流分级,粗粉返回再磨。通过陶瓷接触部件、磁选除铁和批次检测控制磨损污染;设备及衬材按目标杂质指标选择。

高纯石英砂 ↗纳米二氧化硅 ↗
工艺形貌硅花“硅花”展示等离子高温爆燃法过程中的形貌。成品纳米二氧化硅为球形粉体,在所提供SEM图中呈疏松团聚状态。

等离子高温爆燃法

20 nm球形二氧化硅,规模化量产。

以自有石英矿加工的高纯砂为原料,通过等离子高温爆燃法物理工艺量产球形纳米二氧化硅,纯度99.9997%。自有矿源与规模化制备相结合,有助于控制生产成本。

公司提供的纳米二氧化硅SEM原图,标注15.99、20.98及41.97 nm
SEM · 代表性粉体形貌
SiO₂纯度
99.9997%
球形粉体粒径
20nm
BET比表面积
204.8413m²/g
资料列示粒径范围为15.9–41.97 nm,保留SEM原图标注。可在硅微粉页面查看完整元素、晶体结构和比表面积数据。查看完整纳米二氧化硅数据

开展技术评估

有样品或工艺问题,欢迎交流。

请提供原料、目标成分、粒度范围和用途,我们将评估适用的检测与开发方案。

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