
高纯硅微粉
将高纯原料微粉化并分级,同时控制加工污染。产品需通过痕量元素和粒度分布检测评估,不能仅凭白度或单一标称粒径判断。
核心控制 · 杂质组成 · D10/D50/D90 · 粗颗粒尾部 · 批次一致性
高纯 · 球形 · 等离子体法纳米
采用高纯原料,配合自有研磨分级设备及热处理或等离子体工艺,生产三类硅微粉,并按用途控制杂质、粒度和形貌。

综合技术能力
结合高纯原料、研磨分级设备、热工与等离子体工艺,以及自有实验室检测,开发适合不同用途的三类硅微粉。

将高纯原料微粉化并分级,同时控制加工污染。产品需通过痕量元素和粒度分布检测评估,不能仅凭白度或单一标称粒径判断。
核心控制 · 杂质组成 · D10/D50/D90 · 粗颗粒尾部 · 批次一致性
通过形貌控制与粒度分级,评估球形度、多峰分布、流动性及树脂相容性,满足高填充电子封装和覆铜板配方需求。
核心控制 · 球形度 · 堆积密度 · 流动性 · 超大颗粒控制 · 表面相容性
采用自有石英矿加工的高纯砂,通过等离子高温爆燃法量产20 nm球形二氧化硅,纯度99.9997%。
20 nm球形二氧化硅 · 99.9997%纯度 · 物理制备工艺球形粉体 · 等离子高温爆燃法
以自有石英矿加工的高纯砂为原料,采用物理工艺量产20 nm球形二氧化硅,纯度99.9997%。自有矿源与规模化制备相结合,有助于控制生产成本。

从矿源到纳米粉体
采用等离子高温爆燃法制备,有别于传统的四氯化硅火焰水解工艺。成品粉体呈疏松团聚状态,资料列示的粒径范围为15.9–41.97 nm。
| 元素 | ppb | 元素 | ppb |
|---|---|---|---|
| Ag | 0.48 | K | 26.79 |
| Al | 218.44 | Li | 4.75 |
| As | <0.10 | Mg | 22.01 |
| Au | <0.10 | Mn | 0.82 |
| B | 39.18 | Mo | 0.67 |
| Ba | 15.87 | Na | 38.72 |
| Be | <0.10 | Nb | 0.22 |
| Bi | <0.10 | Ni | 1.75 |
| Ca | 129.36 | Pb | <0.10 |
| Cd | <0.10 | Sb | 0.33 |
| Ce | 0.15 | Sn | 1.05 |
| Co | 4.73 | Sr | 0.31 |
| Cr | 36.78 | Th | <0.10 |
| Cu | 13.24 | Ti | 76.34 |
| Fe | 159.01 | Tl | <0.10 |
| Ga | <0.10 | U | <0.10 |
| Ge | 0.79 | V | 0.36 |
| Hf | 0.20 | W | 48.83 |
| In | <0.10 | Zn | 3.52 |
| Zr | 5.56 |
企业提供的代表性样品检测数据,数值、ppb单位与“<0.10”标记按原表保留。
晶系、晶胞参数及计算密度按公司提供的代表性样品资料列示。
现有月产能
高纯与球形产品采用硅微粉生产设备,等离子体法纳米二氧化硅设有独立生产能力。
高纯与球形牌号开发
等离子体法纳米材料工艺

技术与设备优势
气流磨与分级设备用于控制微米级粒度分布。球形和纳米二氧化硅采用各自适用的成形工艺,再通过分级、杂质检测及颗粒表征确认产品指标。
采用自有设备控制微米级粒度分布,减少委托加工环节。
粉体成形后,通过分级控制粗颗粒与细粉含量,保持目标粒度范围。
根据产品要求形成球形形貌或纳米结构。
利用杂质与粒度数据优化后续生产批次。
按应用选型
同为SiO₂,不同产品在配方中的作用可能不同。选型需结合树脂体系、填充量、分散方法、可靠性要求及验收测试。
以上为开发与验证方向。用于实际生产前,仍需在客户配方或工艺中对具体牌号完成测试。

等离子高温爆燃法
采用自有石英矿加工的高纯砂,通过等离子高温爆燃法量产20 nm球形二氧化硅。“硅花”为工艺中的形貌,成品纳米粉体呈疏松团聚状态。
最终供货产品球形纳米二氧化硅
纯度99.9997%,资料列示粒径范围为15.9–41.97 nm。可提供元素、晶体结构和比表面积数据供技术评估。
技术交流
请提供产品用途、目标成分、粒度范围和预计用量,我们将安排产品或技术团队与您沟通。
沟通需求 →