痕量元素分析
通过ICP-OES分析杂质组成，用于矿源筛选、提纯阶段对比及生产批次审核。
精硅检测中心 · 自有实验室
从原矿到成品，提供石英与硅微粉检测。
对石英原矿、石英砂与硅微粉开展痕量元素、粒度分布、目数及约定辅助指标检测，提供可追溯的技术检测报告。
01自有实验室样品前处理与检测流程
0213种元素约定的ICP-OES杂质元素检测组合
03D10 · D50 · D90粒度分布与曲线
04报告可追溯样品标识、方法、数据与审核
检测项目
按材料与工艺需求确定检测项目。
可用于矿源筛选、来料检验、处理效果对比、产品分级或批次审核。样品入室前，确认检测范围、前处理方式与报告依据。
粒度分布
激光衍射检测提供完整粒度分布曲线及D10、D50、D90特征值。
目数与筛分分析
按约定目数或筛孔序列测定筛余与通过比例，用于分级及工艺控制。
辅助指标
结合Fe₂O₃、白度、电导率及约定的离子检测项目，补充元素分析与粒度数据。
对比评估
并列比较原矿、石英砂或硅微粉，支持采购选源、工艺调整及批次审核。
01 / 痕量元素
了解关键杂质组成，支持材料判断。
针对石英和二氧化硅材料提供13种元素ICP-OES检测，用于比较不同矿源、分析处理前后变化及判断批次是否符合约定控制范围。
AlFeCaTiMgNaKLiCrMnCuNiZr
- 矿源筛选比较不同矿源原矿或石英砂的成分特征。
- 工艺对比分析原料、中间体与成品之间的杂质变化。
- 批次审核依据约定指标与判定基础，评估送检材料。
02 / 粒度与目数
看清粒度分布，掌握合格粒级占比。
激光衍射与筛分分析侧重点不同：前者描述整体颗粒分布，后者反映符合生产或采购目数范围的材料比例。
- 激光衍射提供完整曲线及D10、D50、D90特征值。
- 筛分分析按约定目数或筛孔测定筛余与通过百分比。
- 前处理控制随检测任务记录干燥、缩分及分散条件。
- 数据可比多组样品采用同一流程检测，保证对比有意义。
实验室配置
分析仪器与样品制备配套。
实验室围绕元素与粒度分析，配套称量、样品制备、外观指标测量及光学观察设备。
Agilent 5900 ICP-OES
按约定前处理流程，检测13种痕量杂质元素。
Mastersizer 2000
采用激光衍射粒度分析，提供分布曲线与D10、D50、D90。
精密筛分系统
按检测任务选定的目数或筛孔序列测定筛余与通过比例。
样品制备
分析天平、马弗炉及四氟器皿用于称量、热处理和样品前处理，具体步骤按检测方法确定。
原子吸收光谱分析
按元素选用相应分析方法，与ICP-OES共同支持约定范围内的元素检测。
离子计与电导率仪
在约定制样条件下测量相关离子和溶液电导率，不将溶液测试等同于固体石英的绝缘性能检测。
白度测定
用于对颜色有要求的材料外观评价。白度与化学检测结果结合判断，不作为纯度检测的替代。
光学显微观察
观察颗粒形状、可见夹杂及表面状态；纳米尺度特征需通过适用的电子显微分析确认。
送检流程
从样品到结果，六步规范完成。
- 01
明确检测目的
确认材料、应用场景及检测结果需要支持的判断。
- 02
接样与编号
检测前登记样品标识、状态、数量和客户编号。
- 03
样品前处理
按约定流程进行缩分、干燥、消解、分散或筛分。
- 04
检测
使用选定仪器开展痕量元素、粒度或目数检测。
- 05
数据审核
核查结果、单位、曲线及样品或方法的适用限制。
- 06
出具报告与解读
提供可追溯的检测结果，并结合检测目的解读数据。
- 01样品记录
客户编号、材料标识、接样状态及前处理说明。
- 02方法与依据
所选检测流程、单位、测量条件及约定报告依据。
- 03检测结果
元素含量、粒度曲线、D值或筛余与通过比例。
- 04技术审核
随结果附相关观察、对比说明及适用限制。
接样前确认样品量、前处理、检测项目、费用、周期及报告限。除非另有约定且具备相应资质，交付文件为技术检测报告，不作为法定或获认可的第三方认证文件。
提交检测需求
您希望通过样品检测了解什么？
请提供材料类型、样品形态、检测指标、预期范围及结果用途。接样前，我们会确认前处理方式、检测方法、样品量、费用和周期。
咨询样品检测 →